后說到的頻譜分析儀通常用在射頻域,來觀察和分析被測信號的頻域特性,而我們常用其配合近場來掃描電磁干擾的功率峰值以及找到其對應(yīng)的頻點(diǎn),初步判定輻射源屬性。眼看上去這三種儀器用途各不相同,但其實(shí)都可以用來測試晶體振蕩電路的頻率。如果使用示波器或者頻率計(jì),配合無源電壓點(diǎn)測芯片的時(shí)鐘輸入引腳,就可以測量到頻率,如下是各部分的電路結(jié)構(gòu):其中:CC2是晶體的負(fù)載電容,影響到頻率、負(fù)性阻抗等電路參數(shù)RC3是無源電壓的電路參數(shù),R3是9Mohm,C3是幾個(gè)F不等R是示波器或者頻率計(jì)輸入通道的等效阻抗和電容,R4是1Mohm,是幾十F不等如果使用頻譜分析儀,配合近場靠近晶體封裝外殼就可以探測到輻射功率峰值的頻率,這個(gè)頻率也是晶體電路的振蕩頻率。帶寬決定了數(shù)字示波器對信號的基本測量能力。隨著信號頻率的增加,數(shù)字示波器對信號的準(zhǔn)確顯示能力下降。實(shí)際測試中我們會發(fā)現(xiàn),當(dāng)被測信號的頻率與數(shù)字示波器帶寬相近時(shí),數(shù)字示波器將無法分辨信號的高頻變化,顯示信號出現(xiàn)失真。:頻率為100MHz、電壓幅度為1V的信號用帶寬為100MHz的數(shù)字示波器測試,其顯示的電壓只有0.7V左右。為同一階躍信號用帶寬分別為4GHz、1.5GHz和300MHz的數(shù)字示波器測量所得的結(jié)果。
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